Fail:Silicon dislocation orientation 111 mag 500x.png
Mine navigeerimisribale
Mine otsikasti
Sellest suuremat pilti pole.
Silicon_dislocation_orientation_111_mag_500x.png (768 × 576 pikslit, faili suurus: 650 KB, MIME tüüp: image/png)
Lühikirjeldus
| Kirjeldus |
Title: Dislocations in Si crystal, orientation 111
|
| Kuupäev | 13. september 2005 (algne üleslaadimiskuupäev) |
| Allikas | Allikas masinloetaval kujul ära toomata. Oletatavalt üleslaadija oma töö (autoriõiguse ütluse järgi). |
| Autor | Autor masinloetaval kujul ära toomata. Oletatavalt Twisp (autoriõiguse ütluse järgi). |
Litsents
|
Selle teose autoriõiguste valdajana annan selle teose avalikku omandisse. See kehtib üleilmselt. Kui see pole mõnes riigis õiguslikult võimalik: Annan kõigile õiguse seda teost kasutada ükskõik mille jaoks, ilma ühegi tingimuseta, kui seadus neid just ei sea. |
Faili ajalugu
Klõpsa kuupäeva ja kellaaega, et näha sel ajahetkel kasutusel olnud failiversiooni.
| Kuupäev/kellaaeg | Pisipilt | Mõõtmed | Kasutaja | Kommentaar | |
|---|---|---|---|---|---|
| viimane | 13. september 2005, kell 01:15 | | 768 × 576 (650 KB) | wikimediacommons>Twisp | * Title: Dislocations in Si crystal, orientation 111 * Desc: Image of dislocations in Si crystal made using interference microscope with 500x magnification. Crystal orientation can be determined by the triangular (pyramidal) shape of dislocations. * Autho |
Faili kasutus
Seda faili kasutab järgmine lehekülg:
